Влияние облучения на характеристики приборов с накоплением заряда /А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко, А. Г. Коротаев и др.

Всего оценка: 0
Нет записей для отображения.
 
 
 
02151naa a2200313 i 4500
001
 
 
vtls000439510
003
 
 
RU-ToGU
005
 
 
20160715123400.0
008
 
 
121211s2010    ru a   f      100 0 rus d
035
$a to000439510
039
9
$a 201607151234 $b cat202 $c 201607151134 $d cat202 $y 201212111632 $z cat201
040
$a RU-ToGU $b rus $c RU-ToGU
245
1
0
$a Влияние облучения на характеристики приборов с накоплением заряда $c А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко, А. Г. Коротаев и др.
504
$a Библиогр.: 37 назв.
653
$a радиационная стойкость
653
$a накопление зарядов
653
$a труды ученых ТГУ
653
$a характеристики приборов
700
1
$a Войцеховский, Александр Васильевич
700
1
$a Несмелов, Сергей Николаевич
700
1
$a Коротаев, Александр Григорьевич
700
1
$a Григорьев, Денис Валерьевич
700
1
$a Кульчицкий, А. Н.
700
1
$a Мельников, Александр Александрович $c доктор физ.-мат. наук
773
0
$t Высокие технологии в промышленности России : (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы XVI Международной научно-технической конференции (Москва, ЦНИТИ "ТЕХНОМАШ", 2010, 9-11 сентября). Тонкие пленки в электронике : материалы XXIII Международного симпозиума (Москва, ЦНИТИ "ТЕХНОМАШ" 2010, 9-11 сентября) $d М., 2010 $g С. 185-190 $z 9785902740148 $w to000395386
852
$a RU-ToGU
908
$a статья
999
$a VIRTUA
999
$a VTLSSORT0010*0030*0050*0080*0350*0390*0400*2450*5040*6530*6531*6532*6533*7000*7001*7002*7003*7004*7005*7730*8520*9080*9992
Нет комментариев.