Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, С. М. Дзядух и др.

Contributor(s): Войцеховский, Александр Васильевич | Дзядух, Станислав Михайлович | Сидоров, Георгий Юрьевич | Варавин, Василий Семенович | Васильев, Владимир Васильевич физик | Дворецкий, Сергей Алексеевич | Михайлов, Николай Николаевич физик | Якушев, Максим Витальевич | Несмелов, Сергей НиколаевичMaterial type: ArticleArticleSubject(s): молекулярно-лучевая эпитаксия | МДП-структуры | электрофизические исследования | дефекты | приповерхностные слои | полупроводниковые гетероструктуры | адмиттансGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Седьмая Международная конференция "Кристаллофизика и деформационное поведение перспективных материалов", посвященная памяти профессора С. С. Горелика ; Вторая Международная школа молодых ученых "Актуальные проблемы современного материаловедения", Москва, 2-5 октября 2017 г. : тезисы докладов С. 58
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 2 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share