Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Исследование характеристик наногетероструктур Si/Ge с квантовыми точками методом адмиттансной спектроскопии А. В. Войцеховский, В. Г. Сатдаров, А. П. Коханенко и др

Contributor(s): Сатдаров, Вадим Газизович | Коханенко, Андрей Павлович | Калин, Евгений Андреевич | Никифоров, Александр Иванович | Дзядух, Станислав Михайлович | Войцеховский, Александр Васильевич | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники | Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ | Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИMaterial type: ArticleArticleSubject(s): квантовые точки | спектроскопия | кремний | германий | наногетероструктурыGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 9/2. С. 5-7
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 5 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share