Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография [А. А. Клопотов, Ю. А. Абзаев, А. И. Потекаев и др.] ; Нац. исслед. Том. политехн. ун-т, Том. гос. архитектурно-строит. ун-т, Сиб. физ.-техн. ин-т им. акад. В. Д. Кузнецова Том. гос. ун-та

Contributor(s): Клопотов, Анатолий Анатольевич | Абзаев, Юрий Афанасьевич, 1953- | Потекаев, Александр Иванович, 1951- | Томский политехнический университет | Томский государственный архитектурно-строительный университет | Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск)Material type: TextTextPublication details: Томск Издательство Томского политехнического университета 2013Description: 263 с. рис., таблISBN: 9785438701972Subject(s): рентгеновское излучение | кристаллография геометрическая | дифрактограммы | кристаллические решетки | сингонии | фазовый анализ количественный | фазовый анализ качественный | рентгеновская дифрактометрия | взаимодействие рентгеновского излучения с веществом | поликристаллические материалы | Ритвельда метод рентгенофазного анализа полнопрофильныйGenre/Form: монографии Online resources: Click here to access online
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
Выдается по месту хранения Читальный зал 5 548 Ф505 (Browse shelf (Opens below)) Available 13820000856372
Выдается в читальный зал Книгохранилище 2-012879 (Browse shelf (Opens below)) 1 Available 13820000853981
1 месяц Книгохранилище 2-012880 (Browse shelf (Opens below)) 2 Available 13820000853982

Авт. указ. на обороте тит. л.

Библиогр.: с. 262-263

There are no comments on this title.

to post a comment.