Normal view
MARC view
Современные методы исследования материалов и нанотехнологий (лабораторный практикум) учебное пособие : [для студентов вузов по направлению 222900 - "Нанотехнологии и микросистемная техника" [Е. Н. Богомолов, М. А. Бубенчиков, А. О. Гафуров и др.] ; координатор проекта и отв. ред. В. И. Сырямкин ; Том. гос. ун-т
Material type:
TextSeries: Методы диагностики и сертификации материалов и нанотехнологийPublication details: Томск Издательский Дом Томского государственного университета 2013Edition: 2-е изд., испр. и допDescription: 410 с. илISBN: 9785946214247Subject(s): учебные издания для вузов | практикумы | диагностика материалов | диагностика наноматериалов | современные методы исследования | современные средства исследования | оптико-телевизионные измерительные системы | программно-аппаратные комплексы | алгоритмы предварительной обработки изображения | алгоритмы фрактальные | алгоритмы неразрушающего контроля материалов | аттестация нанопорошков | диагностические системы | вейвлет-анализ | Фурье-анализ | "НейроИнформГео", нейроинформационная система | химические материалы, методы исследования | сканирующая зондовая микроскопия | программное обеспечение диагностики материалов | солнечные батареи | магнитные жидкости | светодиоды | органические материалы | внешний анализ материалов | акустический анализ материалов | неразрушающий контроль материалов | информационно-измерительные системы материалов структурно-перестраиваемые | квантово-химические расчеты, программное обеспечение лицензионное | интеллектуальная медицинская оптико-телевизионная диагностическая система | микротомографы рентгеновские | наночастицы, моделирование термофоретического движенияGenre/Form: учебные издания Online resources: Click here to access online
This record has many physical items (143). Click here to view them all.
Авт. указ. на обороте тит. л.
Библиогр.: с. 391-397 и в тексте
There are no comments on this title.