Normal view
MARC view
Резонаторный метод измерения электрофизических характеристик полупроводниковых структур А. В. Войцеховский, О. Г. Ланская
Material type:
ArticleSubject(s): полупроводники | физика полупроводников | резонаторы | характеристики | электрофизические свойства | измерения
In:
Электромагнитные методы измерения и контроля С. 165-169
No physical items for this record
There are no comments on this title.