Normal view
MARC view
Методы и средства контроля процессов и структур in situ Ч. 1 учебное пособие для студентов, магистрантов и аспирантов направлений "Электроника и наноэлектроника", "Материаловедение и технологии материалов", "Биотехнические системы и технологии" : в 2 ч. [Д. И. Биленко, О. Я. Белобровая, С. Б. Вениг и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко, С. Б. Венига ; Саратов. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Material type:
TextSeries: Материаловедение и технология новых материаловPublication details: Саратов Издательство Саратовского университета 2014Description: 199, [1] с. ил., таблISBN: 9785292042822; 9785292042891Subject(s): нанотехнологии | микротехнологии | управление технологическими факторами | управление качеством | управление инновациями | материаловедение | мониторинг технологических факторов количественный | мониторинг свойств наноматериалов | наноструктуры, мониторинг свойств | наноструктуры, мониторинг технологии | математическое моделирование | наноструктуры, методы контроля | наноструктуры, средства контроля | сканирующая туннельная микроскопия многопараметровая | рельеф поверхностей наноструктур | планирование эксперимента многофакторное | измерения in situ | математическое описание экспрессное | разработка технологических процессов научная, методология
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 2-031535 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000969869 | |
| Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 538.9 М545 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000973713 |
Авт. указаны на обороте тит. л.
Библиогр. в конце разд.
There are no comments on this title.