Normal view
MARC view
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"] Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой
Material type:
TextLanguage: Russian Series: Мир материалов и технологийPublication details: Москва Техносфера 2004Description: 377 с. ил. 24 смISBN: 5948360180Subject(s): Материалы -- Микроструктура | электронная микроскопия | сканирующие туннельные микроскопы | твердые тела | межатомные связи | кристаллические фазы | аморфные фазы | кристаллические решетки | дифракционный анализ | кристаллические структуры | Брэгга уравнение | Лауэ уравнение | рентгеновская дифракция | дифракция электронов | Кикучи диаграммы | оптическая микроскопия | оптические микроскопы | интерференционная микроскопия | электронные микроскопы растровые | электронная микроскопия просвечивающая | электронная микроскопия растровая | рентгеновский микроанализ | масс-спектрометрия ионная | Оже-электроны | рентгеновская фотоэлектронная микроскопия | изотропия | анизотропия | гомогенность | гетерогенность | химический анализ поверхности | электроны вторичные | электроны отраженные | точечные дефекты в кристаллах | дифрактограммы | количественные методы микроанализа | металлы | полупроводникиOther classification: 30.3я73
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-946429к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000547815 |
Библиогр. в конце гл.
Предм. указ.: с. 376-377
There are no comments on this title.