Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Электрофизические характеристики наногетероструктур Si/Ge с квантовыми точками Ge А. В. Войцеховский, Н. А. Кульчицкий, А. А. Мельников и др.

Contributor(s): Войцеховский, Александр Васильевич | Мельников, Александр Александрович доктор физ.-мат. наук | Коханенко, Андрей Павлович | Лозовой, Кирилл Александрович | Сатдаров, Вадим Газизович | Кульчицкий, Николай Александрович | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники | Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ | Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ | Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФMaterial type: ArticleArticleSubject(s): германий | кремний | наногетероструктуры | квантовые точки | электрофизические характеристикиGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Нано- и микросистемная техника № 2. С. 9-20
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 24 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share